イープロニクス株式会社 > 基板修理検査保守 > 電子機器基板修理 点検保守検査機

電子機器基板修理 点検保守検査機

基板修理 インサーキトテスト ボードテスト 


ABI  SYSTEM 8 BoardMaster

電子機器基板修理 点検保守検査機 SYSTEM8 BoardMaster 

 電子機器装置を基板レベルと回路レベルで、非通電状態/通電状態での比較検査・不良検出・不良解析を行える、汎用性に富んだ電子機器基板修理 点検保守検査機です。
基板/機器/装置の点検・保守・修理・検査に!
  ☆ 良品比較による、簡単保守点検
  ☆ 検査機能による、故障個所特定
  ☆ 解析機能による、不良部品特定
  ☆ 修理品の動作確認
 

  〇 基板レベル、回路レベルで可能
  〇 アナログ、デジタル、アナデジ混在が可能
  〇 効率的に、点検・修理・確認作業が可能

修理を容易にするだけでなく、
  未然に部品劣化を解析把握し、予防保全も行えます。 
 
 

鉄道設備・車両検査での導入例動画
ABI Electronics System 8

特長 

括測定による比較で、簡単にメンテナンス点検ができます。
 基板・インサーキットレベルで複数項目を一括測定し、良品との同時比較や良品データとのライブ比較により、良品/不良の点検を行えます。
汎用性ある修理点検保守検査を行えます。
 フィクスチャレスで汎用性に優れたプローブ式を採用。 テスト機能と計測器機能の組合せで、インサーキットテスト・基板テスト・部品テストなどを行える汎用機です。
高い不良検出能力と詳細不良解析により、補修が容易です。
 アナログ・デジタル・デジタルアナログ混在・パワーデバイス回路や部品の点検を、付属パソコンソフトによる複数項目の一括検査で、高い故障不良検出率で不良個所を検出します。
 検出した故障不良箇所を計測器機能で測定し詳細を検証でき、容易に修理と修理後の検査を1台で行えます。
重症故障基板も、非通電状態の検査で、安全に検査できます。
 重症故障基板も非通電状態の検査で、安全に不良故障個所を検出します。
カスタマイズ検査機で、効率的に検査できます。
モジュールを組み合わせ、検査機をセミカスタマイズできます。
 同種のモジュールの複数組み合わせで、検査対象規模の拡大に合わせ拡張できます。

   ※ 通電状態用に、各種の回路に対応できる可変電源モジュールを用意しております。
検査・データ収集するソフトが付属しています。
 測定データを収集するソフト「Ultimate」と各ステップ設定や繰返しテスト・長時間スケジュールテストを一括処理できるソフト「TestFlow」が付属しています。
場所をとらないデスクトップタイプです。
 作業テーブル上に設置できるコンパクトな検査機で、広いスペースは不要です。

Abi Electronics BoardMaster
BoardMaster Plusは、パソコン・モニターを内蔵した一体型で、省スペースの操作しやすく汎用性が高いテスト・システムです。

充実した検査解析

 System8 BoardMaster は、アナログ/デジタル/デジタルアナログ混在回路やパワーデバイスなどで構成された回路や基板を、充実した検査解析方法を組み合わせ、一括処理により、効率的に確実な検査解析を行う高い能力を備えています。
 
〇 基板V−Iテスト 非通電状態で基板全体のV−Iカーブのチェック・自動比較を行い、基板の短絡や断線を検査
〇 基板レベルテスト 非通電時のアナログ機能テストと通電時の電源テストの複合基板テストで、基板が正しく動作しているか確認
〇 供給電源確認 電圧と最大/安全電流設定によるPASS/FAIL表示が可能な、基板への電源供給と消費電流を確認
〇 短絡テスト 配線インピーダンスを測定し、配線の短絡位置の特定や高インピーダンス接続を確認
〇 ディスクリート部品
機能テスト
回路内ディスクリート部品を基板から外さず結線したまま、テストプログラムにより部品の働きを確認
〇 セミコンダクタ
動的テスト
非通電状態で、トライアック・トランジスタ・サイリスタなどゲート動作デバイスの動的動作を、V―Tモードでテスト
〇 デジタルIC
テスト確認
接続/電圧の温度依存・ロジック部品のアナログ特性V-Iカーブでの確認・良品データとの比較により、接続違いや内部故障のICを他の基板と比較
〇 デジタルIC
機能テスト
基板に組み込まれたままのデジタルICの機能をテストプログラムで正確に確認
〇 アナログIC
機能テスト
基板に組み込まれたままのアナログICの機能をテストプログラムで正確に確認
〇 信号比較テスト 変化する入力信号に対する部品の応答を他の位置で確認
〇 ロジックテスト
ジェネレータ
デジタルIC・カスタムICの機能テストや実装基板のカスタムテストのシーケンスを自動学習機能で生成
〇 デジタルIC鑑定 品名や型番が不明の動作しているデジタルICの同等品を特定
〇 EPROM比較 EPROMの内容をチェックサム対応で読込み、同類基板の全EPROMが同じか比較確認
〇 ディスクリート部品
特性解析(V−I)
非通電状態の基板で、コンデンサやダイオードのリークや特性不良を検出し、故障部品の種類と構造を特定
〇 IC特性解析
(V−I)
非通電状態の基板で、ICにダメージを与えない非通電V-Iカーブにより故障部品を特定
〇 マトリックス
V−I解析
非通電状態で、デジタル・アナログICの詳細解析と故障チェックや比較検査
〇 信号解析 通電や非通電状態で、バーチャル計測器による信号の印可と測定により、基板上部品の特性と値を確認
〇 カスタムテスト 複雑なテストを、カスタマイズテスト設定により、最少作業で検査
  ※ それぞれの検査解析には、対応するモジュールが必要となります。


電子機器基板修理 点検保守検査機
 
BoardMasterラインナップ

モジュールとケースの組合せにより、高いコストパーフォーマンスの検査機が実現します。
5モジュール
7モジュール
ラックタイプ
組込みケース
組込みケースについてはこちら
 
目的 構成 組込ケース(USB) 品名
汎用標準タイプ
デジタルアナログの
インサーキット/
基板テスト
部品劣化検出と
測定検証用
1x64chボード障害ロケータ (BFL) 7モジュール形 BoardMaster7-2008
1x64chテストモジュール (ATM) ラックタイプ BoardMasterR-2008
1x64chマトリックススキャナ (AMS)    
  
  
  
  
1xアナログICテスタ (AICT)
1x複合測定ステーション (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xBFL, ATM, AMS, AICT, MIS, VPS
アナログ
基板テスト・
基板比較検査
部品劣化検出と
測定検証用
2x64chボード障害ロケータ (BFL) 7モジュール形 BoardMaster7-2010
1x64chマトリックススキャナ (AMS)  ラックタイプ BoardMasterR-2010
1xアナログICテスタ (AICT)  
  
 
 
  
 
1x複合測定ステーション (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, 2xBFL
多数デジタルと
アナログの
インサーキット
テスト・
部品劣化検出と
測定検証用
2x64chテストモジュール (ATM) 7モジュール形 BoardMaster7-2009
1x64chマトリックススキャナ (AMS)  ラックタイプ BoardMasterR-2009
1xアナログICテスタ (AICT)   
  
  
  
1x複合測定ステーション (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, 2xATM
アナログの
基板テスト・
部品劣化検出と
測定検証用
1x64chボード障害ロケータ (BFL) 7モジュール形 BoardMaster7-2012
1x64chマトリックススキャナ (AMS)  ラックタイプ BoardMasterR-2012
1xアナログICテスタ (AICT) 5モジュール形 BoardMaster5-2012
1x複合測定ステーション (MIS)   
  
  
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, BFL
アナログ
基板テスト・
基板比較検査
測定検証用
2x64chボード障害ロケータ (BFL) 7モジュール形 BoardMaster7-0003
1xアナログICテスタ (AICT) ラックタイプ BoardMasterR-0003
1x複合測定ステーション (MIS) 5モジュール形 BoardMaster5-0003
1x可変電源モジュール (VPS)   
  
1xVPS, MIS, AICT, 2x BFL
デジタルアナログの
インサーキットテスト・
部品劣化検出と
測定検証用
1x64chテストモジュール (ATM) 7モジュール形 BoardMaster7-2306
1x64chマトリックススキャナ (AMS)  ラックタイプ BoardMasterR-2306
1xアナログICテスタ (AICT) 5モジュール形 BoardMaster5-2306
1x複合測定ステーション (MIS)   
  
  
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, ATM
アナログの
基板テスト・
部品劣化検出用
1x64chボード障害ロケータ (BFL) 7モジュール形 BoardMaster7-0005
1x64chマトリックススキャナ (AMS)  ラックタイプ BoardMasterR-0005
1xアナログICテスタ (AICT) 5モジュール形 BoardMaster5-0005
1x可変電源モジュール (VPS)   
  
1xVPS, AMS, AICT, BFL
多数デジタルと
アナログの
インサーキットテスト・
測定検証用
2x64chテストモジュール (ATM) 7モジュール形 BoardMaster7-2003
1xアナログICテスタ (AICT) ラックタイプ BoardMasterR-2003
1x複合測定ステーション (MIS) 5モジュール形 BoardMaster5-2003
1x可変電源モジュール (VPS)  
  
 
1xVPS, MIS, AICT, 2x ATM
 
※ 規模拡大やその他の構成の組合せも可能です。詳しくはお問い合わせください。


製品の詳細は、下記ボタンでご覧いただけます。

Abi Electronics System 8 Modules   付属ソフトウェア
 

検査プローブ

BoardMaster は、フィクスチャやコネクタによる基板検査のほか、ランニングコストに優れ汎用性あるプローブ式により、基板レベルとインサーキットレベルの比較検査・不良検出・不良解析を行えます。

標準プローブや端子クリップのほか、特殊形状のプローブやフィクスチャもご用意できます。

推奨アクセサリー
EZ プローバ
推奨アクセサリーパック
推奨クリップセット

 
その他のプローブなどアクセサリー




 


 

このページのトップへ