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基板回路 特性測定検査機

電子機器保守 基板修理 インサーキットテスト ファンクションテスト モジュールテスト 


ABI  SYSTEM 8 BoardMaster

基板回路 特性測定検査機 SYSTEM8 BoardMaster 


 電子機器装置やプリント基板・回路・部品を、通電状態/通電状態で、電気特性検査・比較検査・故障箇所特定・不良解析・動作チェックができる、卓上汎用型テスタータイプの基板回路 特性測定検査機です。
☆ 良品比較により、電子機器保守点検が簡単
高能力解析検査機能で、故障個所を特定
重症故障基板も、非通電で安全に検査
☆ 基板・回路・部品を扱える汎用性
☆ アナログ/デジタル/混在回路を測定検査可能    
☆ 各種の検査/測定を、混在一括処理可能
☆ 低費用でインサーキット/ファンクションテスト



おもな用途
  • インサーキットテスト
  • ファンクションテスト
  • 基板回路の良品比較保守点検
  • 試作や修理基板の動作確認
  • 基板や回路の故障個所特定
  • 基板・回路・部品の特性測定解析
  • 基板回路ケーブルの接続チェック
  • 劣化部品予測
基板レベル・回路レベルで、測定検査が可能です。
  容易で効率的な修理だけでなく、
    部品劣化を未然に把握し、予防保全も行えます。
PASS/FAIL 良否と
V-I特性比較を
同時表示可能
汎用性ある
プローブで
故障個所特定
フィクスチャ利用で
量産基板検査
にも対応
 

特長 

基板や回路から、モジュールやデバイスまで、汎用性ある保守点検や修理・動作確認検査が可能です。
 汎用性に優れた接続(フィクスチャーコネクタ/コネクターコネクタ/プローブーコネクタ/クリップーコネクタなど)で、充実した検査解析機能により、基板や回路からモジュールやデバイスまで、電子機器保守点検・基板修理・電気特性検査が可能です。
  検査解析機能と疑似信号も発生できる計測器機能の組合せで、点検・故障個所特定・修理後動作確認まで行えます。
検査・データ収集するソフトを付属しています。
検査解析測定条件を設定するソフト『Ultimate』、各ステップ設定や繰返しテスト・長時間スケジュールテストを設定し検査解析や計測測定を一括処理できるソフト『TestFlow』が付属しています。
一括処理による比較で、効率的に保守点検ができます。
 付属ソフト『Ultimate』は、豊富な検査解析機能の各検査解析測定の条件設定のみでなく、Pass/Failしきい値設定により、『良品/不良』点検ができます。
付属ソフト『TestFlow』は、検査解析するそれぞれを一括処理するステップシーケンスとして設定できます。各検査解析項目ステップごとの『良品/不良』の切り分けのみでなく、検査測定値の保存もでき故障個所特定を、容易に行えます。
良品同時ライブ比較や良品データとの比較し、複数検査解析項目の『良品/不良』の点検を一括処理で点検できます。
高い不良検出能力と詳細不良解析により、修理が容易です。
 アナログ・デジタル・デジタルアナログ混在・パワーデバイス回路や部品の点検を、付属ソフト『Ultimate』と『TestFlow』による複数検査解析項目の一括検査で故障個所を特定検出します。
 検出した故障不良箇所を計測器機能で測定し詳細のレポートにより検証でき、容易に修理と修理後の検査を1台で行えます。
非通電状態の検査で、重症故障基板も、安全に検査できます。
 重症故障基板も非通電状態の検査で、安全に不良故障個所を検出します。
カスタマイズ検査機で、効率的に検査できます。
モジュールを組み合わせ、検査機をセミカスタマイズできます。
 同種のモジュールの複数組み合わせで、検査対象規模の拡大に合わせ拡張できます。

   ※ 通電状態用に、各種の回路に対応できる可変電源モジュールを用意しております。
場所をとらないデスクトップタイプです。
 作業テーブル上に設置できるコンパクトな検査機で、広いスペースは不要です。
 

システム構成

システムは、WindowsPC
 
 〇 アプリケーションに合わせ組合わせ可能な、
     各種の検査/測定モジュール・信号切換ユニット

  
 〇 プローブ/クリップ/フィクスチャ/ケーブル/フットスィッチ
 
 〇 装置の設定・各種アプリケーションで、
     故障特定/検査/計測を行う付属ソフト『Ultimate』

 
 〇『Ultimate』の解析検査機能設定をシーケンシャルに実行し、
     スケジュール実行も可能な付属ソフト『TestFlow』

  
により、汎用性ある環境環境に対応しています。
Abi Electronics System 8 Modules
信号切換ユニット
付属ソフトウェア
BoardMaster Plusは、パソコン・モニターを内蔵した一体型で、省スペースの操作しやすく汎用性が高いテスト・システムです。 Abi Electronics BoardMaster
5モジュール
7モジュール
ラックタイプ
組込みケース
組込みケースについてはこちら
 

充実した検査解析機能

 System8 BoardMaster は、アナログ/デジタル/デジタルアナログ混在回路やパワーデバイスなどで構成された回路や基板を、充実した検査解析方法を組み合わせ、一括処理により、効率的に確実な検査解析を行う高い能力を備えています。
〇 ディスクリート部品
特性解析(V−I
非通電状態の基板で、コンデンサやダイオードのリークや特性不良を検出し、故障部品の種類と構造を未然に特定します。
〇 インサーキットV−Iテスト 非通電状態でV−Iカーブのチェック・自動比較を行い、回路の短絡や断線を検査できます。
〇 マトリックス V−I解析 非通電状態で、デジタル・アナログICの詳細解析と故障チェックや比較検査を行います。
〇 基板レベルVIテスト 非通電時のアナログ機能テストと通電時の電源テストの複合基板テストで、基板が正しく動作しているか確認します。
〇 セミコンダクタ 動的テスト 非通電状態で、トライアック・トランジスタ・サイリスタなどゲート動作デバイスの動的動作を、V―Tモードでテストします。
〇 短絡テスト 配線インピーダンスを測定し、配線の短絡位置の特定や高インピーダンス接続箇所を確認できます。
〇 基板テスト 通電状態での電源確認、V-Iカーブにより基板をテストします。
〇 ディスクリート部品
機能テスト
回路内ディスクリート部品を基板から外さず結線したまま、部品の働きをテストプログラムにより確認します。
〇 供給電源確認 電圧と最大/安全電流設定によりPASS/FAIL表示が可能、基板への電源供給と消費電流を確認できます。
〇 デジタルIC テスト確認 接続/電圧の温度依存・ロジック部品のアナログ特性V-Iカーブでの確認・良品データとの比較により、接続違いや内部故障のICを他の基板のデータと比較します。
〇 デジタルIC鑑定 品名や型番が不明の動作デジタルICの同等品を特定できます。
〇 ロジックテストェネレータ デジタルIC・カスタムICの機能テストや実装基板のカスタムテストのシーケンスを自動学習機能で生成します。
〇 デジタルIC 機能テスト 基板に組み込まれたままのデジタルICの機能を、テストプログラムで正確に確認にします。
〇 アナログIC 機能テスト 基板に組み込まれたままのアナログICの機能を、テストプログラムで正確に確認します。
〇 EPROM比較 EPROMの内容をチェックサム対応で読込み、同類基板の全EPROMが同じか比較確認します。
〇 信号測定 通電や非通電状態で、計測器ユニットのファンクションジェネレータとプログラマブル信号入出力I/Fによる疑似信号の印可と測定により、基板上部品の特性と値を確認できます。
〇 カスタムテスト 複雑なテストシーケンスを、カスタマイズテスト設定により、最少作業で短時間に検査できます。
〇 信号比較テスト 変化する入力信号に対する部品の応答を、任意の回路位置で確認できます。

※ それぞれの検査解析には、対応するモジュールの組合せが必要となります。
 

電子機器基板修理 点検保守検査機 BoardMasterラインナップ 

モジュールとケースの組合せにより、使用環境に合わせた、高いコストパーフォーマンスの検査機を形成できます。
 
標準組合せ ラインナップ
目的 品名 組込ケース(USB) 構成
汎用標準タイプ
デジタルアナログの
インサーキット/
基板テスト
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-2008 7モジュール形 1x64chボード障害ロケータ (BFL)
BoardMasterR-2008 ラックタイプ 1x64chテストモジュール (ATM)
  1x64chマトリックススキャナ (AMS) 
1xアナログICテスタ (AICT)
1x複合測定ステーション (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xBFL, ATM, AMS, AICT, MIS, VPS
アナログ
基板テスト・
基板比較検査
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-2010 7モジュール形 2x64chボード障害ロケータ (BFL)
BoardMasterR-2010 ラックタイプ 1x64chマトリックススキャナ (AMS) 
  1xアナログICテスタ (AICT)
1x複合測定ステーション (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, 2xBFL
多数デジタルと
アナログの
インサーキット
テスト・
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-2009 7モジュール形 2x64chテストモジュール (ATM)
BoardMasterR-2009 ラックタイプ 1x64chマトリックススキャナ (AMS) 
  1xアナログICテスタ (AICT)
1x複合測定ステーション (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, 2xATM
アナログの
基板テスト・
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-2012 7モジュール形 1x64chボード障害ロケータ (BFL)
BoardMasterR-2012 ラックタイプ 1x64chマトリックススキャナ (AMS) 
BoardMaster5-2012 5モジュール形 1xアナログICテスタ (AICT)
  1x複合測定ステーション (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, BFL
アナログ
基板テスト・
基板比較検査
測定検証用
BoardMaster7-0003 7モジュール形 2x64chボード障害ロケータ (BFL)
BoardMasterR-0003 ラックタイプ 1xアナログICテスタ (AICT)
BoardMaster5-0003 5モジュール形 1x複合測定ステーション (MIS)
  1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, 2x BFL
デジタルアナログの
インサーキットテスト・
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-230 7モジュール形 1x64chテストモジュール (ATM)
BoardMasterR-2306 ラックタイプ 1x64chマトリックススキャナ (AMS) 
BoardMaster5-2306 5モジュール形 1xアナログICテスタ (AICT)
  1x複合測定ステーション (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, ATM
アナログの
基板テスト・
部品劣化検出用
BoardMaster7-0005 7モジュール形 1x64chボード障害ロケータ (BFL)
BoardMasterR-0005 ラックタイプ 1x64chマトリックススキャナ (AMS) 
BoardMaster5-0005 5モジュール形 1xアナログICテスタ (AICT)
  1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, AMS, AICT, BFL
多数デジタルと
アナログの
インサーキットテスト・
測定検証用
BoardMaster7-2003 7モジュール形 2x64chテストモジュール (ATM)
BoardMasterR-2003 ラックタイプ 1xアナログICテスタ (AICT)
BoardMaster5-2003 5モジュール形 1x複合測定ステーション (MIS)
  1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, 2x ATM
 
※ 規模拡大やその他の構成の組合せも可能です。詳しくはお問い合わせください。

汎用性ある検査プローブについて

BoardMaster は、フィクスチャやコネクタによる基板検査のほか、ランニングコストに優れ汎用性あるプローブ式により、基板レベルとインサーキットレベルの比較検査・不良検出・不良解析を行えます。

標準プローブや端子クリップのほか、特殊形状のプローブやフィクスチャについてもご相談ください。
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EZ プローバ
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