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電気特性検査機【基板/デバイス 検査保守修理】

基板検査保守修理 電気特性検査機 ABI SYSTEM8 BoardMaster

 電子機器装置・プリント基板・回路・部品やデバイスのインサーキットテスト/ファンクションテスト/ケーブル接続チェックなど電気特性試験や比較検査を行う、汎用性ある電気特性検査機です。
 
 多品種の保守修理や小ロット生産の検査試験を、検査測定解析ソフト・検査測定解析ソフトで制御する検査測定解析に合わせた各種の検査測定モジュール・複数検査測定解析の一括処理ソフトの組合せにより、幅広く検査測定や良否比較・部品検査などを行えます。
 
 充実した検査測定解析機能と一括処理による自動検査レポートで、動作確認や部品劣化予測・故障部分の特定のみでなく、原因の特定も行えます。
☆ 基板・回路・部品を扱える汎用性
☆ インサーキット/ファンクション/部品デバイス動作/ケーブル接続テストが可能
☆ 充実した高性能検査解析機能
☆ 複数項目の設定値検査やライブ比較検査を、一括して検査測定
☆ 全自動/半自動の検査測定による、高い作業性
☆ 故障個所特定を容易にする、自動検査/測定詳細レポート生成保存 
☆ 重症故障基板も、非通電で安全に検査
☆ アナログ/デジタル/混在回路を測定検査
☆ 小型、低価格

おもな用途
☆インサーキットテスト
☆ファンクションテスト
☆部品・デバイスの電気特性テスト
☆基板・回路・部品の良品比較
☆保守修理基板・小ロットや試作品の動作確認
☆基板や回路の故障個所特定
☆基板・回路・部品の特性測定解析
☆基板回路ケーブルの接続チェック
☆劣化部品予測

  容易で効率的な修理だけでなく、
    部品劣化を未然に把握し、予防保全も行えます。
良品比較
比較検査は、専門知識がなくても検査を行えます。
PASS/FAIL 良否結果と
特性比較を同時に表示し、検査測定レポートを自動生成保存します
鉄道設備・車両検査での導入例動画

スタート操作のみの
全自動検査
測定ポイント画面指示で
効率的に操作できる
半自動一括検査

基板レベル・回路レベルで、部品レベルで、
         汎用性ある、測定検査が可能です。
結線切換ユニットにより
ケーブル交換だけで
全基板のファンクションテストを
一括テスト可能
プローブで、
簡単操作で
インサーキットテスト
自動アダプタで
周囲部品に影響されずに
ICを測定検査
フィクスチャ利用で
量産基板検査にも対応

特長 

基板や回路から、モジュールやデバイスまで、汎用性ある保守点検や修理・動作確認検査が可能です。
 汎用性に優れた接続(フィクスチャーコネクタ/コネクターコネクタ/プローブーコネクタ/クリップーコネクタなど)で、充実した検査解析機能により、基板や回路からモジュールやデバイスまで、電子機器保守点検・基板修理・電気特性検査が可能です。
  検査解析機能と疑似信号も発生できる計測器機能の組合せで、点検・故障個所特定・修理後動作確認まで行えます。
検査・データ収集するソフトを付属しています。
 検査解析測定条件を設定し検査を行う検査測定解析ソフト『Ultimate』、設定した各ステップの検査を行い、繰返しテスト・長時間スケジュールテストも可能な一括処理ソフト『TestFlow』が付属しています。
一括処理による検査や良品比較で、効率的に保守点検ができます。
 検査測定解析ソフト『Ultimate』は、豊富な検査解析機能の各検査解析測定の条件設定のみでなく、良否Pass/Failしきい値設定により、『良品』点検ができます。
 一括処理ソフト『TestFlow』は、それぞれの検査解析を、ステップシーケンスとして一括処理できます。
 良品同時ライブ比較や良品データ比較を行い、複数検査解析項目の『良品/不良』の点検を一括処理で点検できます。 各検査解析項目ステップごとの『良品/不良』の切り分けのみでなく、各ステップで検査測定値など含んだ検査測定レポートファイルが自動生成保存され、故障個所特定を容易に行えます。
高い不良検出能力と詳細不良解析の自動検査測定レポートにより、修理が容易です。
 アナログ・デジタル・デジタルアナログ混在・パワーデバイス回路や部品の点検を、付属ソフト『Ultimate』と『TestFlow』による複数検査解析項目の一括検査で故障個所を特定検出します。
 検出した故障不良箇所を、測定検査の詳細を自動生成保存された検査測定レポートで検証でき、容易な修理ができ、修理後の検査も1台で行えます。
非通電状態の検査で、重症故障基板も、安全に検査できます。
 重症故障基板も非通電状態の検査で安全に不良故障個所を検出します。
カスタマイズ検査機で、効率的に検査できます。
検査/測定モジュールを組み合わせ、検査機をセミカスタマイズできます。
 同種のモジュールの複数組み合わせで、検査対象規模の拡大に合わせ拡張できます。

   ※ 通電状態用に、各種の回路に対応できる可変電源モジュールを用意しております。
場所をとらないデスクトップタイプです。
 作業テーブル上に設置できるコンパクトな検査機で、広いスペースは不要です。
 

システムの構成詳細


システムは、WindowsPCと以下の構成により、汎用性ある検査に対応しています。
1. 検査測定解析ソフト『Ultimate』
 検査/測定の設定を行い、検査/測定モジュールを制御し、検査/計測を行います。良否比較機能を備えています。
 
2. 各種の検査/測定モジュール・自動結線切換ユニット
 ケーブルやプローブで基板や回路と接続し、『Ultimate』ソフトにより制御されるハードウェアインターフェース。アプリケーションに合わせ組合わせ可能で、組込ケースに収納し使用します。
 
 3. プローブ/クリップ/フィクスチャ/ケーブル
 基板/回路/部品やデバイスと検査/測定モジュールを接続します。基板/回路/部品やデバイスと接続方法に合わせ、選択し使用します。

4.一括処理ソフト『TestFlow』
 『Ultimate』で設定した個々の解析検査機能を、シーケンシャルに一括実行します。スケジュール実行も可能です。自動レポート機能を備え、検査結果により、故障がある場合、故障箇所や原因を追跡できます。
  
付属 検査測定解析ソフトウェア


検査/測定モジュールの詳細ははこちら
Abi Electronics System 8 Modules

自動結線切換ユニットについてはこちら


 
5モジュール
7モジュール
ラックタイプ
組込みケース
組込みケースについてはこちら
 
 
BoardMaster Plusは、パソコン・モニターを内蔵した一体型で、省スペースの操作しやすく汎用性が高いテスト・システムです。
Abi Electronics BoardMaster

充実した検査解析機能

 System8 BoardMaster は、アナログ/デジタル/デジタルアナログ混在回路やパワーデバイスなどで構成された回路や基板を、充実した検査解析方法を組み合わせ、一括処理により、効率的に確実な検査解析を行う高い能力を備えています。
 
〇 ケーブル接続チェック
ョート/断線/部品接続

 
使用モジュール
テストモジュールATM
ケーブルを自動スキャンし、断線や他のケーブルとのショート、ケーブル間のしきい値設定による部品接続の正否を確認できます。
〇 短絡テスト


使用モジュール
ボード障害ロケータBFL、テストモジュールATM
配線インピーダンスを測定し、配線の短絡位置の特定や高インピーダンス接続箇所を確認できます。
〇 供給電源確認


使用モジュール
可変電源モジュール VPS
電圧と最大/安全電流設定によりPASS/FAIL表示が可能、基板への電源供給と消費電流を確認できます。
〇 基板テスト


使用モジュール
テストモジュールATM
通電状態での電源確認、V-Iカーブにより基板をテストします
〇 ディスクリート部品
特性解析(V−I
 
使用モジュール
アナログICテスタAICT 、マトリックス スキャナAMS
非通電状態の基板で、コンデンサやダイオードのリークや特性不良を検出し、故障部品の種類と構造を未然に特定します。
〇 インサーキットV−Iテスト


使用モジュール
アナログICテスタAICT 、マトリックス スキャナAMS
非通電状態でV−Iカーブのチェック・自動比較を行い、回路の短絡や断線を検査できます。
〇 マトリックス V−I解析


使用モジュール
アナログICテスタAICT 、マトリックス スキャナAMS
非通電状態で、デジタル・アナログICの詳細解析と故障チェックや比較検査を行います。
〇 基板レベルVIテスト


?使用モジュール
テストモジュールATM、又はマトリックス スキャナAMS
非通電時のアナログ機能テストと通電時の電源テストの複合基板テストで、基板が正しく動作しているか確認します。
〇 セミコンダクタ 動的テスト


使用モジュール
マトリックス スキャナAMS、アナログICテスタAICT
非通電状態で、トライアック・トランジスタ・サイリスタなどゲート動作デバイスの動的動作を、V―Tモードでテストします。
〇 ディスクリート部品
機能テスト

 
使用モジュール
アナログICテスタAICT
回路内ディスクリート部品を基板から外さず結線したまま、部品の働きをテストプログラムにより確認します。
〇 デジタルIC テスト確認


使用モジュール
テストモジュールATM、ボード障害ロケータBFL
接続/電圧の温度依存・ロジック部品のアナログ特性V-Iカーブでの確認・良品データとの比較により、接続違いや内部故障のICを他の基板のデータと比較します。
〇 デジタルIC鑑定


使用モジュール
テストモジュールATM、ボード障害ロケータBFL
品名や型番が不明の動作デジタルICの同等品を特定できます。
〇 ロジックテストェネレータ


使用モジュール
テストモジュールATM、ボード障害ロケータBFL
デジタルIC・カスタムICの機能テストや実装基板のカスタムテストのシーケンスを自動学習機能で生成します。
〇 デジタルIC 機能テスト


使用モジュール
テストモジュールATM、ボード障害ロケータBFL
基板に組み込まれたままのデジタルICの機能を、テストプログラムで正確に確認にします。
〇 アナログIC 機能テスト


使用モジュール
アナログICテスタ AICT

 
基板に組み込まれたままのアナログICの機能を、テストプログラムで正確に確認します。
〇 EPROM比較


使用モジュール
ボード障害ロケータBFL
EPROMの内容をチェックサム対応で読込み、同類基板の全EPROMが同じか比較確認します。
〇 信号測定


使用モジュール
複合マルチ計測器MIS4
通電や非通電状態で、計測器ユニットのファンクションジェネレータとプログラマブル信号入出力I/Fによる疑似信号の印可と測定により、基板上部品の特性と値を確認できます。
〇 カスタムテスト


使用モジュール
複合マルチ計測器MIS4、他モジュール
複雑なテストシーケンスを、カスタマイズテスト設定により、最少作業で短時間に検査できます。
〇 信号比較テスト


使用モジュール
マトリックス スキャナAMS、アナログICテスタAICT、複合マルチ計測器MIS4
変化する入力信号に対する部品の応答を、任意の回路位置で確認できます。

 

※ それぞれの検査解析には、対応するモジュールの組合せが必要となります。
 

電子機器基板修理 点検保守検査機 BoardMasterラインナップ 

モジュールとケースの組合せにより、使用環境に合わせた、高いコストパーフォーマンスの検査機を形成できます。
 
標準組合せ ラインナップ
目的 品名 組込ケース(USB) 構成
汎用標準タイプ
デジタルアナログの
インサーキット/
基板テスト
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-2008 7モジュール形 1x64chボード障害ロケータ (BFL)
BoardMasterR-2008 ラックタイプ 1x64chテストモジュール (ATM)
  1x64chマトリックススキャナ (AMS) 
1xアナログICテスタ (AICT)
1x複合マルチ計測器 (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xBFL, ATM, AMS, AICT, MIS, VPS
アナログ
基板テスト・
基板比較検査
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-2010 7モジュール形 2x64chボード障害ロケータ (BFL)
BoardMasterR-2010 ラックタイプ 1x64chマトリックススキャナ (AMS) 
  1xアナログICテスタ (AICT)
1x複合マルチ計測器 (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, 2xBFL
多数デジタルと
アナログの
インサーキット
テスト・
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-2009 7モジュール形 2x64chテストモジュール (ATM)
BoardMasterR-2009 ラックタイプ 1x64chマトリックススキャナ (AMS) 
  1xアナログICテスタ (AICT)
1x複合マルチ計測器 (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, 2xATM
アナログの
基板テスト・
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-2012 7モジュール形 1x64chボード障害ロケータ (BFL)
BoardMasterR-2012 ラックタイプ 1x64chマトリックススキャナ (AMS) 
BoardMaster5-2012 5モジュール形 1xアナログICテスタ (AICT)
  1x複合マルチ計測器 (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, BFL
アナログ
基板テスト・
基板比較検査
測定検証用
BoardMaster7-0003 7モジュール形 2x64chボード障害ロケータ (BFL)
BoardMasterR-0003 ラックタイプ 1xアナログICテスタ (AICT)
BoardMaster5-0003 5モジュール形 1x複合マルチ計測器 (MIS)
  1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, 2x BFL
デジタルアナログの
インサーキットテスト・
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-230 7モジュール形 1x64chテストモジュール (ATM)
BoardMasterR-2306 ラックタイプ 1x64chマトリックススキャナ (AMS) 
BoardMaster5-2306 5モジュール形 1xアナログICテスタ (AICT)
  1x複合マルチ計測器 (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, ATM
アナログの
基板テスト・
部品劣化検出用
BoardMaster7-0005 7モジュール形 1x64chボード障害ロケータ (BFL)
BoardMasterR-0005 ラックタイプ 1x64chマトリックススキャナ (AMS) 
BoardMaster5-0005 5モジュール形 1xアナログICテスタ (AICT)
  1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, AMS, AICT, BFL
多数デジタルと
アナログの
インサーキットテスト・
測定検証用
BoardMaster7-2003 7モジュール形 2x64chテストモジュール (ATM)
BoardMasterR-2003 ラックタイプ 1xアナログICテスタ (AICT)
BoardMaster5-2003 5モジュール形 1x複合マルチ計測器 (MIS)
  1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, 2x ATM
 
※ 規模拡大やその他の構成の組合せも可能です。詳しくはお問い合わせください。

汎用性ある検査プローブについて

BoardMaster は、フィクスチャやコネクタによる基板検査のほか、ランニングコストに優れ汎用性あるプローブ式により、基板レベルとインサーキットレベルの比較検査・不良検出・不良解析を行えます。

標準プローブや端子クリップのほか、特殊形状のプローブやフィクスチャについてもご相談ください。
推奨アクセサリー
EZ プローバ
推奨アクセサリーパック
推奨クリップセット

 
プローブなどアクセサリー
 
 

 

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