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電子機器装置保守メンテナンス修理予防保全 電子機器点検保守検査機

英国 ABI Electronics 社 インサーキトテスト ボードテスト 


ABI  SYSTEM 8 BoardMaster

デバイス/基板/機器/装置の点検・保守・検査に!
良品比較、不良検出、不良解析で
  容易な修理のみでなく、
    未然に
部品劣化を解析把握し、予防保全できます。
 ABI社 System8 BoardMaster は、電子機器装置の比較検査・不良検出・不良解析を、非通電状態や通電状態で基板レベルとインサーキットレベルで行える、汎用性に富んだ電子機器点検保守検査機です。
 
 ◎ 保守メンテナンス・修理・予防保全を、比較検査や複数検査解析を一括処理する付属パソコンソフトにより、容易に行えます。

 
◎ アナログ/デジタル/デジタルアナログ混在/パワーデバイスなどの比較検査・不良検出・不良解析が、モジュール組合せによるセミカスタマイズ多チャンネル化により、より効率的に可能です。

※ 通電状態用に、各種の回路に対応できる可変電源モジュールを用意しております。
鉄道設備・車両検査での導入例動画
ABI Electronics System 8
作業手順作成、トラブルシューティングなどのソフトもこちらでご紹介しております。
一括した良品比較のメンテナンス点検ができます。
 基板・インサーキットレベルで複数項目の一括測定し、同時比較や収集済良品や初期データとのライブ比較により、簡単に良品/不良の点検を行えます。
汎用性ある点検保守検査を行えます。
 SYSTEM 8は、フィクスチャレスで汎用性に優れたプローブ式を採用。 テスト機能と計測器機能のモジュールの組合せで、インサーキットテスト・基板テスト・部品テストなど多項目の検査ができる電子機器や装置・基板の点検保守に最適なシステムです。
高い不良検出と詳細不良解析により、補修が容易です。
 アナログ・デジタル・デジタルアナログ混在・パワーデバイス回路や部品の点検に必要な機能のモジュールを組合せ、付属パソコンソフトによる複数項目の一括検査で、高い故障不良検出率で不良個所を検出できます。
 検出した故障不良箇所を計測器機能で測定し詳細を検証でき、容易に修理と修理後の検査を行えます。
重症故障基板も、非通電状態の検査で、安全に検査できます。
 重症故障基板も非通電状態の検査で、安全に不良故障個所を検出できます
カスタマイズ検査機で、効率的に検査できます。
 ロジック検査・アナログ検査・リーク障害検出・障害位置検出・複合計測器、補助電源モジュールを組み合わせ、検査機をセミカスタマイズできます。
 同種のモジュールの複数組み合わせで、検査対象規模の拡大に合わせた拡張も簡単です。
検査・データ収集するソフトが付属しています。
 測定データを収集する「Ultimate」と各ステップ設定や繰返しテスト・長時間スケジュールテストを一括処理できる「TestFlow」が付属しています。
場所をとらないデスクトップタイプです。
 作業テーブル上に設置できるコンパクトな検査機で、広いスペースは不要です。

電子機器 点検保守検査機 SYSTEM8 BoardMaster 

〇インサーキットテストとフィクスチャレス基板テスト、計測検証を行えます。
 
〇基板のほぼあらゆる種類の障害を発見する包括的テストで、高い検出率の多種類の試験方法で診断できるアルゴリズムを搭載しています。
 
〇任意のSYSTEM 8モジュールを組み合わせ、セミカスタマイズが可能です。
 
〇BoardMaster Plusは、パソコン・モニターを内蔵した一体型で、省スペースの操作しやすく汎用性が高いテスト・システムです。

 
● デジタル機能テスト(インサーキットとアウトサーキット)
● アナログ機能テスト(ICやディスクリート・デバイス)
●  グラフィカルなテストジェネレータ
● 測定同時自動比較
● デジタルとアナログのVIテスト
● アナログマトリックスVI
● デジタルICの識別子
● EPROM検証
● ショートロケータ
● デジタルオシロスコープ、デジタルマルチメータ、信号発生器、ユニバーサル カウンタ、ユニバーサルI / O、可変電源を装備
● 自動化故障診断シーケンス
● プログラミングにより、複数検査項目の一括テストや長時間エージング中の自動繰返しテストも可能なソフト「TestFlow」を付属
Abi Electronics BoardMaster

高い検査解析能力

System8 BoardMaster は、アナログ/デジタル/デジタルアナログ混在/パワーデバイスなどで構成された基板や回路を、充実した検査解析方法を使用し、個別のみでなく一括処理により、確実に検査解析する高い能力を備えています。
 
  • テスト検査解析方法

    ☆ 非通電状態で基板全体のV−Iカーブのチェック・自動比較を行い、基板の短絡や断線を検査する、基板V−Iテスト

    ☆ 非通電時のアナログ機能テストと通電時の電源テストの複合基板テストで、基板が正しく動作しているか確認する、基板レベルテスト

    ☆ 電圧と最大/安全電流設定によるPASS/FAIL表示が可能な、基板への電源供給と消費電流を確認する、供給電源確認

    ☆ 配線インピーダンスを測定し、配線の短絡位置の特定や高インピーダンス接続を確認する、短絡テスト

    ☆ 回路内ディスクリート部品を基板から外さず結線したまま、テストプログラムにより部品の働きを確認する、ディスクリート部品機能テスト

    ☆ 非通電状態で、トライアック・トランジスタ・サイリスタなどゲート動作デバイスの動的動作を、V―Tモードでテストする、セミコンダクタ動的テスト

    ☆ 接続/電圧の温度依存・ロジック部品のアナログ特性V-Iカーブでの確認・良品データとの比較により、接続違いや内部故障のICを他の基板と比較する、デジタルICテスト確認

    ☆ 基板に組み込まれたままのデジタルICの機能をテストプログラムで正確に確認する、デジタルIC機能テスト

    ☆ 基板に組み込まれたままのアナログICの機能をテストプログラムで正確に確認する、アナログIC機能テスト

    ☆ 変化する入力信号に対する部品の応答を他の位置で確認する、信号比較テスト

    ☆ デジタルIC・カスタムICの機能テストや実装基板のカスタムテストのシーケンスを自動学習機能で生成する、ロジックテストジェネレータ

    ☆ 品名や型番が不明で動作しているデジタルICの同等品を特定する、デジタルIC鑑定

    ☆ EPROMの内容をチェックサム対応で読込み、同類基板の全EPROMが同じか比較確認する、EPROM比較

    ☆ 非通電状態の基板で、コンデンサやダイオードのリークや特性不良を検出し、故障部品の種類と構造を特定する、ディスクリート部品特性解析(V−I)

    ☆ 非通電状態の基板で、ICにダメージを与えない非通電V-Iカーブにより故障部品を特定する、IC特性解析(V−I)

    ☆ 非通電状態で、デジタル・アナログICの詳細解析と故障チェックや比較検査を行う、マトリックスV−I解析

    ☆ 通電や非通電状態で、バーチャル計測器による信号の印可と測定により、基板上部品の特性と値を確認する、信号解析

        ☆  複雑なテストを、カスタマイズテスト設定によりスピードアップし行える、カスタムテスト


電子機器点検保守検査機 BoardMasterラインナップ

モジュールとケースの組合せにより、高いコストパーフォーマンスの検査機が実現します。
5モジュール
7モジュール
ラックタイプ
組込みケース
組込みケースについてはこちら
 
標準モジュール組合せ 構成 組込ケース(USB) 品番
汎用標準タイプ
デジタルアナログの
インサーキット/基板テスト
部品劣化検出・測定検証用
1x64chボード障害ロケータ (BFL) 7モジュール形 BoardMaster7-2008
1x64chテストモジュール (ATM) ラックタイプ BoardMasterR-2008
1x64chマトリックススキャナ (AMS)    
  
  
  
  
1xアナログICテスタ (AICT)
1x複合測定ステーション (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xBFL, ATM, AMS, AICT, MIS, VPS
アナログ
基板テスト・基板比較検査
部品劣化検出と測定検証用
2x64chボード障害ロケータ (BFL) 7モジュール形 BoardMaster7-2010
1x64chマトリックススキャナ (AMS)  ラックタイプ BoardMasterR-2010
1xアナログICテスタ (AICT)  
  
 
 
  
 
1x複合測定ステーション (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, 2xBFL
多数デジタルとアナログの
インサーキットテスト・
部品劣化検出と測定検証用
2x64chテストモジュール (ATM) 7モジュール形 BoardMaster7-2009
1x64chマトリックススキャナ (AMS)  ラックタイプ BoardMasterR-2009
1xアナログICテスタ (AICT)   
  
  
  
1x複合測定ステーション (MIS)
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, 2xATM
アナログの
基板テスト・
部品劣化検出と測定検証用
1x64chボード障害ロケータ (BFL) 7モジュール形 BoardMaster7-2012
1x64chマトリックススキャナ (AMS)  ラックタイプ BoardMasterR-2012
1xアナログICテスタ (AICT) 5モジュール形 BoardMaster5-2012
1x複合測定ステーション (MIS)   
  
  
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, BFL
アナログ
基板テスト・基板比較検査
測定検証用
2x64chボード障害ロケータ (BFL) 7モジュール形 BoardMaster7-0003
1xアナログICテスタ (AICT) ラックタイプ BoardMasterR-0003
1x複合測定ステーション (MIS) 5モジュール形 BoardMaster5-0003
1x可変電源モジュール (VPS)   
  
1xVPS, MIS, AICT, 2x BFL
デジタルアナログの
インサーキットテスト・
部品劣化検出と測定検証用
1x64chテストモジュール (ATM) 7モジュール形 BoardMaster7-2306
1x64chマトリックススキャナ (AMS)  ラックタイプ BoardMasterR-2306
1xアナログICテスタ (AICT) 5モジュール形 BoardMaster5-2306
1x複合測定ステーション (MIS)   
  
  
1x可変電源モジュール (VPS)
1xVPS, MIS, AICT, AMS, ATM
アナログの
基板テスト・
部品劣化検出用
1x64chボード障害ロケータ (BFL) 7モジュール形 BoardMaster7-0005
1x64chマトリックススキャナ (AMS)  ラックタイプ BoardMasterR-0005
1xアナログICテスタ (AICT) 5モジュール形 BoardMaster5-0005
1x可変電源モジュール (VPS)   
  
1xVPS, AMS, AICT, BFL
多数デジタルとアナログの
インサーキットテスト・
測定検証用
2x64chテストモジュール (ATM) 7モジュール形 BoardMaster7-2003
1xアナログICテスタ (AICT) ラックタイプ BoardMasterR-2003
1x複合測定ステーション (MIS) 5モジュール形 BoardMaster5-2003
1x可変電源モジュール (VPS)  
  
 
1xVPS, MIS, AICT, 2x ATM
 
※ 規模拡大やその他の構成の組合せも可能です。詳しくはお問い合わせください。


製品の詳細は、下記ボタンでご覧いただけます。

Abi Electronics System 8 Modules   付属ソフトウェア
 

検査プローブ

BoardMaster は、フィクスチャやコネクタによる基板検査のほか、ランニングコストに優れ汎用性あるプローブ式により、基板レベルとインサーキットレベルの比較検査・不良検出・不良解析を行えます。

標準プローブや端子クリップのほか、特殊形状のプローブやフィクスチャもご用意できます。

推奨アクセサリー
EZ プローバ
推奨アクセサリーパック
推奨クリップセット

 
その他のプローブなどアクセサリー




 


 

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