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周波数スイープ V-I特性テスター AMS

英国 ABI Electronics 社 VI特性テスター

ABI SYSTEM 8 AMS

周波数スイープVI特性テスター SYSTEM8 AMS
デバイスやコンデンサなど劣化の把握に!
  劣化を事前に把握し、トラブルを回避できます。
  部品内部のリーク
部品内部の短絡不良

部品値の違いや変化
を検出します。


印加する電圧電流範囲を通常動作の範囲に限定する繰返し評価が可能な非破壊の評価方法 V-I(電流−電圧)特性測定により、半導体やコンデンサなどの部品の内部リークや短絡不良・値変化を検出し、未然に品劣化による故障を防げます。
同一デバイスの置かれた温度・応力などの環境を変化させながらの多角的な評価や、周波数をスイープした動的 V-I特性測定データを良品やライブラリーデータと比較し、より詳細な判断も可能です。
操作手順画像などを組込み可能な付属ソフト「Ultimate」とテストをスケジュールできる「TestFlow」ソフトにより、容易な操作で点検保守を行えます。
電源OFFのテストで安全
フィクスチャレス、プローブ交換による高い汎用性
容易な設置が可能なデスクトップ型


周波数スイープVI特性テスター SYSTEM8 AMS

電源オフ状態で、周波数スイープしたVI特性が得られます。
 ·  周波数スイープでV / I特性分析
 ·  V / I特性解析(静的周波数)
 ·  マトリックスV / Iテスト(複数基準)
 ·  ダイナミックV / Tテスト(パルス出力)
 ·  同時測定自動比較
 ·  保存されたマスクと自動比較
 ·   IC識別
 ·  内部短絡位置
 ·  64 チャンネル/モジュール
 ·  周波数をパラメータで3D解析も可能
VI特性分析 周波数スイープ


マトリックス スキャナ Advanced Matrix Scanner(AMS)
付属ソフト「Ultimate」で、VI特性の情報を得たりテストをします。
System 8  Advanced Matrix Scanner  ·  周波数スイープでV / I特性分析
 ·  V / I特性解析(静的周波数)
 ·  マトリックスV / Iテスト(複数基準)
 ·  ダイナミックV / Tテスト(パルス出力)
 ·  測定同時自動比較
 ·  保存されたマスクと自動比較
 ·   IC識別
 ·  短絡位置
 ·  64 チャンネル/モジュール
(最高2048チャンネルまで拡張可)



 


 

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