イープロニクス株式会社 > 基板検査保守修理 > JTAG バウンダリスキャンテスト JTAGMaster

JTAG バウンダリスキャンテスト JTAGMaster

ABI JTAGMaster

JTAGテスター/プログラミング JTAGMaster

プローブ接続が物理的に不可能なデバイス検査も、チップ内部の回路を数珠繋ぎにし、内部状態を順番に読み出すバウンダリングスキャンとプログラマブル・ロジック・デバイス(PLD)プログラミングの両方を行えます。
テストとPLDのプログラミングの機能により、ダウンロードしたオーダーメイドのプログラムとの機能検証やデバイスをプログラムした後の再テストが行えます。

業界標準のJAM STAPLファイル(標準テストとプログラミング言語)とSVFファイル(シリアルベクタフォーマット)を扱えるプログラミング・インタフェースを装備しています
JTAGテスター
  テスト範囲
〇  製造欠陥テスト
〇  ロジックエラー
〇  プログラムエラー
〇  回路構成欠陥

機能
バウンダリスキャン検査
JAM/SVF プログラミング
JTAGチェーン自動検知
JTAG/IEEE 1149.1規格
USB接続
供給電源内蔵(1.8-3.3V)
 
特徴
◎  個別ピンのグラフィックモニター表示
◎  基板動作中もテスト可能
◎  ピンの個別制御モードあり
◎ JTAG接続での比較記録
◎  テストシーケンス資料作成
 
サポートプロトコル
•シリアル・ペリフェラル・インタフェース(SPI)
•集積回路間(I²C)
•マイクロワイヤ(μwire)
BGAエラー個所表示例
動画


 



 

このページのトップへ