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ABI Electronics 社 JTAG バウンダリングスキャンテスターJTAGMaster

JTAGテスター  



ABI JTAGMaster

JTAGテスター/プログラミング JTAGMaster

プローブ接続が物理的に不可能なデバイス検査も、チップ内部の回路を数珠繋ぎにし、内部状態を順番に読み出すバウンダリングスキャンとプログラマブル・ロジック・デバイス(PLD)プログラミングの両方を行えます。

テストとPLDのプログラミングの機能により、ダウンロードしたオーダーメイドのプログラムとの機能検証やデバイスをプログラムした後の再テストが行えます。

業界標準のJAM STAPLファイル(標準テストとプログラミング言語)とSVFファイル(シリアルベクタフォーマット)を扱えるプログラミング・インタフェースを装備しています
JTAGテスター
  テスト範囲
  製造欠陥テスト
  ロジックエラー
  プログラムエラー
  回路構成欠陥
 
特徴
◎  個別ピンのグラフィックモニター表示

◎  基板動作中もテスト可能
◎  ピンの個別制御モードあり
◎ JTAG接続での比較記録
  テストシーケンス資料作成
 
サポートプロトコル
•シリアル・ペリフェラル・インタフェース(SPI)
•集積回路間(I²C)
•マイクロワイヤ(μwire)
BGAエラー個所表示例



 



 

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