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インサーキットテストやファンクションテスト・基板テストが可能な、基板回路電気特性測定検査機、複合マルチ計測器、V−I特性テスター、JTAGテスターなど、英国 ABI Electronics 社製品を販売開始

ファンクションテスト・インサーキットテストが可能 基板回路 電気特性測定検査機、複合マルチ計測器、V−I特性テスター、JTAGテスターなど、英国 ABI Electronics 社製品の販売を開始しました。


研究開発・メンテナンス時の不良予測・生産時の試験検査・品質管理にご使用いただける機器、
インサーキットテスト・ファンクションテスト・部品テストが可能な
 
基板回路 電気特性測定検査機
同時に8種類の計測機能を1台で測定できる複合マルチ計測器
デバイス劣化を未然に探知するV−I 特性テスター
BGAなどのデバイスを検査するJTAGテスター
など、
英国 ABI Electronics 社製品を販売開始しました。

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