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インサーキットテスター、基板テスター、複合計測器ステーション、V−I特性テスター、JTAGテスターなど、英国 ABI Electronics 社製品を販売開始。

インサーキット基板テスター、複合計測器ステーション、V−I特性テスター、JTAGテスターなど、英国 ABI Electronics 社製品の販売を開始しました。


研究開発・メンテナンス時の不良予測・生産時品質管理にご使用いただける機器、
フィクスチャレス基板テストとインサーキットテストが可能なインサーキットボードテスター

8種類の計測機能を1台で測定できる複合計測器ステーション
デバイス劣化を未然に探知するV−I 特性テスター
BGAなどのデバイスを検査するJTAGテスター
など、
英国 ABI Electronics 社製品を販売開始しました。

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