 | 電子機器保守点検・基板修理・電気特性検査に、プリント基板・回路・部品やデバイスのインサーキットテスト／ファンクションテスト／ケーブル接続チェックなど電気特性検査や比較検査を行う、基板回路電気特性検査機です。 |
 | 高光学分解能フルカラースキャナの画像と検査対象ごとの高性能アルゴリズムを搭載したソフトによる、低価格で高性能を備えた検査機です。 |
 | 8種の同時計測機能を１台で！ 独立したコネクタにそれぞれを接続し、同時に効率よく複数の計測ができ、測定データの自動収集もできます。 |
 | 繰返し評価が可能な非破壊評価法V-I 特性測定で、デバイスやコンデンサ等のリーク・短絡・値変化の測定により、未然に故障防止を可能とします。 |
 | 回路のすべての一般的なアナログ IC、ディスクリート デバイスを機能診断できます。アナログとデジタル部品の電源 offでのV-Iテストも可能です。 |
 | 単一ロジック部品のテスト、ロジック実装基板の機能診断ができます。個別部品や基板レベルで機能テストし、短時間で不良個所を検出します。 |
 | 基板障害位置検出、一般的なデジタル IC のテストとイン/アウト サーキットテストを行え、基板の良否をライブ比較ができ、短時間に良否判定を行えます 。 |
 | バウンダリングスキャンテストとPLDのプログラミングの機能で、オーダーメイドのプログラムとの機能検証やデバイスプログラムの再テストも行えます。 |
 | 2ピン部品から複雑なBGAまで、不正確なピン配置やインピーダンス変化を検出しライブラリ比較で、偽造ICや部品を素早く検出します。 |
 | アナログＩＣを、テスター感覚で検査できる、低価格のハンディタイプのアナログICテスターです。 |
 | ロジックＩＣを、テスター感覚で検査できる、低価格のハンディタイプのロジックＩＣテスターです。 |
