インサーキットテストやファンクションテスト・基板テストが可能な、基板回路電気特性測定検査機、複合マルチ計測器、Ｖ－Ｉ特性テスター、ＪＴＡＧテスターなど、英国 ABI Electronics 社製品を販売開始
2016.6.28ファンクションテスト・インサーキットテストが可能 基板回路 電気特性測定検査機、複合マルチ計測器、Ｖ－Ｉ特性テスター、ＪＴＡＧテスターなど、英国 ABI Electronics 社製品の販売を開始しました。
研究開発・メンテナンス時の不良予測・生産時の試験や検査・品質管理にご使用いただける機器、
インサーキットテスト・ファンクションテスト・部品テストが可能な
基板回路 電気特性測定検査機、
同時に８種類の計測機能を１台で測定できる複合マルチ計測器、
デバイス劣化を未然に探知するＶ－Ｉ 特性テスター、
ＢＧＡなどのデバイスを検査するＪＴＡＧテスター
など、英国 ABI Electronics 社製品を販売開始しました。
