回路基板VI電気特性測定試験検査装置

基板故障位置テスター

基板故障位置テスター SYSTEM8 BFLモジュール

Abi Electronics System 8 BFL
  • インサーキット/アウトサーキットテスト (TLL or CMOS)
  • スルーホールやSMT部品テスト (DIL, SOIC, PLCC, QFP)
  • ロジックICからCPUまでのライブラリ比較
  • カスタムロジックICテストに対応可能
  • デジタル V-I テスト
  • デジタル IC 確認
  • EPROM 比較
  • 短絡位置検出
  • TestFlow ソフトによるスケジュリングテスト可能
(64 チャンネル ステップ)256 チャンネルまでアップグレードできます.

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