基板故障位置テスター 基板故障位置テスター SYSTEM8 BFLモジュール インサーキット/アウトサーキットテスト (TLL or CMOS) スルーホールやSMT部品テスト (DIL, SOIC, PLCC, QFP) ロジックＩＣからＣＰＵまでのライブラリ比較 カスタムロジックＩＣテストに対応可能 デジタル V-I テスト デジタル IC 確認 EPROM 比較 短絡位置検出 TestFlow ソフトによるスケジュリングテスト可能 (64 チャンネル ステップ)256 チャンネルまでアップグレードできます.
