周波数スイープＶＩ特性テスター SYSTEM8 AMSモジュール
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部品内部のリーク
部品内部の短絡不良
部品値の違いや変化
を検出します。
印加する電圧電流範囲を通常動作の範囲に限定する繰返し評価が可能な非破壊の評価方法 V-I（電流－電圧）特性測定により、半導体やコンデンサなどの部品の内部リークや短絡不良・値変化を検出し、未然に部品劣化による故障を防げます。
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同一デバイスの置かれた温度・応力などの環境を変化させながらの多角的な評価や、周波数をスイープした動的 V-I特性測定データを良品やライブラリーデータと比較し、より詳細な判断も可能です。
操作手順画像などを組込み可能な付属ソフト「Ultimate」とテストをスケジュールできる「TestFlow」ソフトにより、容易な操作で点検保守を行えます。
電源ＯＦＦのテストで安全 ３D V-I 特性
フィクスチャレス、プローブ交換による高い汎用性
容易な設置が可能なデスクトップ型
電源オフ状態で、周波数スイープしたＶＩ特性が得られます。
- 周波数スイープでV / I特性分析
- V / I特性解析（静的周波数）
- マトリックスV / Iテスト（複数基準）
- ダイナミックV / Tテスト（パルス出力）
- 同時測定自動比較
- 保存されたマスクと自動比較
- ＩＣ識別
- 4 チャンネルパルス出力
- 64 チャンネル/モジュール
- 周波数をパラメータにした3Ｄ解析も可能
20PinIC検査と
各ピンの10-10KHz ＶＩ特性3Dデータ表示
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プローブ使用検査
10-50HzV-I特性データ3D表示
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周波数スィープによる
V-I特性データ表示
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