回路基板電気特性測定試験検査機

VI電気特性測定試験検査機

電気特性検査機 

VI電気特性測定試験検査機 BoardMaster

 重症故障回路基板も可能な非通電V I 電気特性測定など25種の試験が可能、電子機器・基板・部品・デバイス・ワイヤーハーネスの検査・不良個所検出・不良部品確認・良品確認を行え、信頼性評価、故障対策、保守修理に活用できる電気特性測定試験検査機です。
 アプリケーションに合わせ自由に組合せた複数の試験検査モジュールを、検査項目や検査内容の付属ソフトによる設定で、パソコンで各モジュールを制御しながら、測定や試験検査を行えます。
幅広い電気特性試験検査に活用が可能
自在に設定した複数検査の繰返し試験や長時間スケジュール試験も可能です。
  • インサーキット/ファンクション/部品動作/ハーネス検査
  • 基板や回路の故障個所特定
  • 基板・回路・部品の特性測定解析
  • 部品・デバイスの電気特性試験
  • 基板・回路・部品の良品比較
  • 保守修理基板・小ロットや試作品の動作確認
  • 劣化部品予測
信頼性評価、故障対策、保守修理保守など汎用性
故障個所特定/故障原因解明/修理後確認ができ、測定データと良品基板/良品データ/設定データの比較検査もできます。
部品・ハーネス・回路・基板などを25種類の試験検査が可能
基板不良個所、デジタルアナログIC試験などを検査できます。
自由な試験検査モジュール組合せで、カスタマイズ試験検査機が可能
同種モジュールの複数組み合わせで、検査対象規模の拡大に合わせ拡張できます。
重症故障基板も、非通電状態の検査で安全に不良故障個所を検出
電源供給無しで、基板/回路/モジュール/デバイスの検査・不良部特定/確認ができ、修理後確認もできます
検査・データ収集・一括検査ソフトが付属
検査解析内容を設定し検査を行う検査測定解析ソフト『Ultimate』、設定した各ステップの検査を行い、繰返しテスト・長時間スケジュールテストも可能な一括検査ソフト『TestFlow』が付属しています。
場所をとらないデスクトップタイプ
作業テーブル上に設置できるコンパクトな検査機で、広いスペースは不要です。

システム概要

BoardMasterは、 検査テスターや制御部をモジュール化したABI SYSTEM8の試験検査モジュールを自由に組合せ、付属ソフト「UltiMate」により、各モジュールの検査・比較検査の設定を行い、付属ソフト「TestFlow」により検査機能の切換を行います。
システムは、組み合わせた検査テスターモジュール構成とWindows PC により、汎用性ある検査に対応しています。
自由に組み合わせられる試験検査モジュール自動結線切換ユニット
 各モジュールはケーブルやプローブで基板や回路と接続し、USBでPCと接続します。PCにインストールした『Ultimate』ソフトにより制御され、検査/測定を行います。
アプリケーションに合わせ組合わせ可能で、組込ケースに収納し使用します。
プローブ/クリップ/フィクスチャ/ケーブル
基板/回路/部品やデバイスと検査/測定モジュールを接続します。基板/回路/部品やデバイスと接続方法に合わせ、選択し使用します。
付属 検査解析ソフト『Ultimate』 
検査/測定の設定を行い、検査/測定モジュールを制御し、検査/計測を行います。良否比較機能を備えています。
付属 一括検査ソフト『TestFlow』 
『Ultimate』で設定した個々の解析検査機能を、シーケンシャルに一括実行します。スケジュール実行も可能です。自動レポート機能を備え、検査結果により、故障がある場合、故障箇所や原因を追跡できます。
 
良品同時ライブ比較や良品データ比較を行い、複数検査解析項目の『良品/不良』の点検を一括処理で点検できます。
各検査解析項目ステップごとの『良品/不良』の切り分けのみでなく、各ステップで検査測定値など含んだ検査測定レポートファイルが自動生成保存され、故障個所特定を容易に行えます。
 
検出した故障不良箇所を、測定検査の詳細を自動生成保存された検査測定レポートで検証でき、容易な修理ができ、修理後の検査も1台で行えます。

 試作から保守まで多くの分野に、対応しています。

  • 製品開発時やメンテナンスなどで不良個所を効率よく検索できる「半自動検査」
  • 開発品各タイプの特性比較や全数検査データが容易に得られる「全自動検査」
  • 量産レベルの検査やメンテナンス作業を簡単操作で行う「比較検査」
半自動検査
一次試作品検査や保守検査などで、不良個所を効率よく検索でき、短時間に修理ができます。
付属パソコンソフト『Ultimate』で作成した検査と検査内容を、サブソフト『TestFlow』で検査シーケンスを実行し、各ステップで測定ポイントを画面指示し検査します。
全自動検査
全数検査などで、検査データを自動生成でき、品質管理が容易になります。
付属パソコンソフト『Ultimate』で作成した複数の検査を、サブソフト『TestFlow』でスタート操作のみで検査シーケンスを実行し、検査を行います。
ABI Electronics社 自動検査
良品比較検査
量産検査に最適な良品比較検査は、専門知識なしで検査できます。
付属パソコンソフト『Ultimate』で作成した検査テスト項目を、スタート操作のみでサブソフト『TestFlow』で検査し、検査データと保存した良品データを比較し、PASS/FAIL 良否結果と特性比較を同時に表示します。
不良内容などの自動生成検査測定レポートを保存でき、補修を容易にします。

汎用性ある検査が可能

基板レベル・回路レベル・、部品レベルで、汎用性ある、測定検査が可能です。
結線切換ユニットによりケーブル交換だけで全基板のファンクションテストを一括テスト可能
プローブで、簡単操作インサーキットテスト
自動アダプタで周囲部品に影響されずにICを測定検査
 フィクスチャ利用で量産基板検査にも対応
 

選択できる System8 検査モジュール

VI特性検査 AMS
アナログ部品IC検査 AICT
ロジック部品基板検査 ATM
基板故障位置検査 BFL
複合電子計測器 MIS4
プログラマブルDC電源モジュール PPS
Abi Electronics System 8 Modules

MMS 結線切換ユニット 

モジュールと基板などの間に使用し、パソコン制御で入出力チャンネルを拡大でき、結線切換なしで、半自動/全自動検査が可能です。

モジュール組込ケース

モジュール組合せ型
同一サイズの検査テスターモジュールを任意の数でモジュール組込ケースに組込み、最適なシステムとして使用いただけます。
7モジュール用/5モジュール用/2モジュール用/1モジュール用・ラックタイプがあります。
パソコン一体型 BoardMaster Plus
パソコン・モニターを内蔵した一体型で、省スペースの操作しやすく汎用性が高いテスト・システムです。
 

おもな試験検査項目

 アナログ/デジタル/デジタルアナログ混在回路やパワーデバイスなどで構成された基板回路やデバイス等を、複数の組み合わせた試験検査を一括で検査し、効率的に確実な試験検査する高い能力を備えています。
ワイヤーハーネス接続試験  ショート/断線/部品接続確認
  • ケーブルを自動スキャンし、断線や他のケーブルとのショート、ケーブル間のしきい値設定による部品接続の正否を確認できます。
使用モジュール
ロジック部品基板検査モジュール ATM
短絡検査
  • 配線インピーダンスを測定し、配線の短絡位置の特定や高インピーダンス接続箇所を確認できます。
使用モジュール
基板故障位置検査モジュール BFL
ロジック部品基板検査モジュール ATM
供給電源確認
  • 電圧と最大/安全電流設定によりPASS/FAIL表示が可能、基板への電源供給と消費電流を確認できます。
使用モジュール
プログラマブル電源モジュール PPS
基板検査
  • 通電状態での電源確認、V-Iカーブにより基板をテストします。
使用モジュール
ロジック部品基板検査モジュール ATM
ディスクリート部品特性試験 (V-I)
  • 非通電状態の基板で、コンデンサやダイオードのリークや特性不良を検出し、故障部品の種類と構造を未然に特定します。
使用モジュール
アナログ部品IC検査モジュール AICT
VI特性検査モジュール AMS
インサーキットV-I検査
  • 非通電状態でV-Iカーブのチェック・自動比較を行い、回路の短絡や断線を検査できます。
使用モジュール
アナログ部品IC検査モジュール AICT
VI特性検査モジュール AMS
マトリックス V-I検査
  • 非通電状態で、デジタル・アナログICの詳細解析と故障チェックや比較検査を行います。
使用モジュール
ロジック部品基板検査モジュール ATM
又は VI特性検査モジュール AMS
基板レベルVI検査
  • 非通電時のアナログ機能テストと通電時の電源テストの複合基板テストで、基板が正しく動作しているか確認します。
使用モジュール
ロジック部品基板検査モジュール ATM
又は VI特性検査モジュール AMS
セミコンダクタ 動的試験
  • 非通電状態で、トライアック・トランジスタ・サイリスタなどゲート動作デバイスの動的動作を、V―Tモードでテストします。
使用モジュール
アナログ部品IC検査モジュール AICT
VI特性検査モジュール AMS
ディスクリート部品機能試験
  • 回路内ディスクリート部品を基板から外さず結線したまま、部品の働きをテストプログラムにより確認します。
使用モジュール
アナログ部品IC検査モジュール AICT
デジタルIC 確認試験
  • 接続/電圧の温度依存・ロジック部品のアナログ特性V-Iカーブでの確認・良品データとの比較により、接続違いや内部故障のICを他の基板のデータと比較します。
使用モジュール
ロジック部品基板検査モジュール ATM
基板故障位置検査モジュール BFL
デジタルIC鑑定
  • 品名や型番が不明の動作デジタルICの同等品を特定できます。
使用モジュール
ロジック部品基板検査モジュール ATM
基板故障位置検査モジュール BFL
ロジックテストジェネレータ
  • デジタルIC・カスタムICの機能テストや実装基板のカスタムテストのシーケンスを自動学習機能で生成します。
使用モジュール
ロジック部品基板検査モジュール ATM
基板故障位置検査モジュール BFL
デジタルIC 機能試験
  • 基板に組み込まれたままのデジタルICの機能を、テストプログラムで正確に確認にします。
使用モジュール
ロジック部品基板検査モジュール ATM
基板故障位置検査モジュール BFL
アナログIC 機能試験
  • 基板に組み込まれたままのアナログICの機能を、テストプログラムで正確に確認します。
使用モジュール
アナログ部品IC検査モジュール AICT
EPROM比較
  • EPROMの内容をチェックサム対応で読込み、同類基板の全EPROMが同じか比較確認します。
使用モジュール
基板故障位置検査モジュール BFL
信号測定
  • 通電や非通電状態で、計測器ユニットのファンクションジェネレータとプログラマブル信号入出力I/Fによる疑似信号の印可と測定により、基板上部品の特性と値を確認できます。
使用モジュール
複合電子計測器モジュール MIS4
カスタム試験
  • 複雑なテストシーケンスを、カスタマイズテスト設定により、最少作業で短時間に検査できます。
使用モジュール
複合電子計測器モジュール MIS4
他、任意必要モジュール
信号比較試験
  • 変化する入力信号に対する部品の応答を、任意の回路位置で確認できます。
使用モジュール
VI特性検査モジュール AMS
アナログ部品IC検査モジュール AICT
複合電子計測器モジュール MIS4
  ※ それぞれの試験検査には、対応するモジュールの組合せが必要となります。

電子機器基板修理 点検保守検査機 BoardMasterラインナップ

モジュールとケースの組合せにより、使用環境に合わせた、高いコストパーフォーマンスの検査機を形成できます。
 

標準組合せ ラインナップ

汎用標準タイプ  デジタルアナログのインサーキット/基板テスト 部品劣化検出と測定検証用
組込ケース(USB) 品名 構成モジュール
7モジュール形 BoardMaster7-2008 1xBFL, ATM, AMS, AICT, MIS4, PPS
ラックタイプ BoardMasterR-2008
構成詳細 1x64ch BFL_基板故障位置検査モジュール
1x64ch ATM_ロジック部品基板機能検査モジュール
1x64ch AMS_VI特性検査モジュール
1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
1xMIS4_複合マルチ計測器モジュール
1xPPS_プログラマブル電源モジュール
アナログ基板テスト・基板比較検査 部品劣化検出と測定検証用
組込ケース(USB) 品名 構成モジュール
7モジュール形 BoardMaster7-2010 1xPPS, MIS4, AICT, AMS, 2xBFL
ラックタイプ BoardMasterR-2010
構成詳細 2x64ch BFL_基板故障位置検査モジュール
1x64ch AMS_VI特性検査モジュール
1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
1xMIS4_複合マルチ計測器モジュール
1xPPS_プログラマブル電源モジュール
多数デジタルとアナログのインサーキットテスト・部品劣化検出と測定検証用
組込ケース(USB) 品名 構成モジュール
7モジュール形 BoardMaster7-2009 1xPPS, MIS4, AICT, AMS, 2xATM
ラックタイプ BoardMasterR-2009
構成詳細 2x64ch ATM_ロジック部品基板機能検査モジュール
1x64ch AMS_VI特性検査モジュール
1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
1xMIS4_複合マルチ計測器モジュール
1xPPS_プログラマブル電源モジュール
アナログ基板テスト・部品劣化検出と測定検証用 
組込ケース(USB) 品名 構成モジュール
5モジュール形 BoardMaster5-2012 1xPPS, MIS4, AICT, AMS, BFL
7モジュール形 BoardMaster7-2012
ラックタイプ BoardMasterR-2012
構成詳細 1x64ch BFL_基板故障位置検査モジュール
1x64ch AMS_VI特性検査モジュール
1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
1xMIS4_複合マルチ計測器モジュール
1xPPS_プログラマブル電源モジュール
 アナログ基板テスト・基板比較検査 測定検証用
組込ケース(USB) 品名 構成モジュール
5モジュール形 BoardMaster5-0003 1xPPS, MIS4, AICT, 2x BFL
7モジュール形 BoardMaster7-0003
ラックタイプ BoardMasterR-0003
構成詳細 2x64ch BFL_基板故障位置検査モジュール
1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
1xMIS4_複合マルチ計測器モジュール
1xPPS_プログラマブル電源モジュール
デジタルアナログのインサーキットテスト・部品劣化検出と測定検証用
組込ケース(USB) 品名 構成モジュール
5モジュール形 BoardMaster5-2306 1xPPS, MIS4, AICT, AMS, ATM
7モジュール形 BoardMaster7-2306
ラックタイプ BoardMasterR-2306
構成詳細 1x64ch ATM_ロジック部品基板機能検査モジュール
1x64ch AMS_VI特性検査モジュール
1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
1xMIS4_複合マルチ計測器モジュール
1xPPS_プログラマブル電源モジュール
アナログ基板テスト・部品劣化検出用
組込ケース(USB) 品名 構成モジュール
5モジュール形 BoardMaster5-0005 1xPPS, AMS, AICT, BFL
7モジュール形 BoardMaster7-0005
ラックタイプ BoardMasterR-0005
構成詳細 1x64ch BFL_基板故障位置検査モジュール
1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
1x64ch AMS_VI特性検査モジュール
1xPPS_プログラマブル電源モジュール
 多数デジタルとアナログのインサーキットテスト・測定検証用
組込ケース(USB) 品名 構成モジュール
5モジュール形 BoardMaster5-2003 1xPPS, MIS4, AICT, 2x ATM
7モジュール形 BoardMaster7-2003
ラックタイプ BoardMasterR-2003
構成詳細 2x64ch ATM_ロジック部品基板機能検査モジュール
1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
1xMIS4_複合マルチ計測器モジュール
1xPPS_プログラマブル電源モジュール

※ 規模拡大やその他の構成の組合せも可能です。詳しくはお問い合わせください。
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