電子部品のチェック・解析 受託
部品は見た目は正常でも、時間の経過とともに電子機器は静かに劣化していきます。熱、湿度、酸化は材料特性を変化させ、予期せぬ動作や突然の故障につながります。老朽化した部品は、初期試験には合格しても、ストレス下では故障し、コストのかかるダウンタイムを引き起こすことがよくあります。
予防検査により、予期しない電子機器の故障を最大 70% 削減できます。
テストが不可欠な理由
- 信頼性:コンデンサ1個の故障で回路基板全体が破壊される可能性があります。
- 安全性:老朽化した半導体は内部でショートし、過熱や発火の危険につながる可能性があります。
- コスト管理:劣化を早期に検出することで、交換コストと人件費を削減できます。
- 品質保証:航空宇宙、医療、産業システムでは特に重要です。
LogicIC テスト
環境の影響
- 熱(10℃上昇ごとに劣化速度が2倍になります)
- 湿度と結露
- 振動と機械的ストレス
- 静電気放電(ESD)対策が施されていない環境での長期保管
コンパレータのテスト
提供サービス
基板に実装した部品とオフサーキット部品を解析を実施します。
解析の内容
- VI・VIマトリックス 特性測定
- VI特性比較
- ファンクションテスト
- 真理値表テスト
- 温度安定性
- 偽造IC検出
対応部品:トランジスタ、ダイオド、MOSFET、フォトカプラ、アイソレータ、OPAMP、コンパレータ、レギュレータ、スイッチ、マルチプレクサ、TTL・CMOS ICs,メモリIC、インタフェースIC
フォトカプラ解析