電子部品のチェック・解析 受託

電子部品のチェック・解析 受託

電子部品のチェック・解析 受託


部品は見た目は正常でも、時間の経過とともに電子機器は静かに劣化していきます。熱、湿度、酸化は材料特性を変化させ、予期せぬ動作や突然の故障につながります。老朽化した部品は、初期試験には合格しても、ストレス下では故障し、コストのかかるダウンタイムを引き起こすことがよくあります。
予防検査により、予期しない電子機器の故障を最大 70% 削減できます。

テストが不可欠な理由

  • 信頼性:コンデンサ1個の故障で回路基板全体が破壊される可能性があります。
  • 安全性:老朽化した半導体は内部でショートし、過熱や発火の危険につながる可能性があります。
  • コスト管理:劣化を早期に検出することで、交換コストと人件費を削減できます。
  • 品質保証:航空宇宙、医療、産業システムでは特に重要です。
電子部品解析
LogicIC テスト

環境の影響

  • 熱(10℃上昇ごとに劣化速度が2倍になります)
  • 湿度と結露
  • 振動と機械的ストレス
  • 静電気放電(ESD)対策が施されていない環境での長期保管
電子部品 チェック
コンパレータのテスト
 

提供サービス

基板に実装した部品とオフサーキット部品を解析を実施します。
解析の内容
  • VI・VIマトリックス 特性測定
  • VI特性比較
  • ファンクションテスト
  • 真理値表テスト
  • 温度安定性
  • 偽造IC検出
対応部品:トランジスタ、ダイオド、MOSFET、フォトカプラ、アイソレータ、OPAMP、コンパレータ、レギュレータ、スイッチ、マルチプレクサ、TTL・CMOS ICs,メモリIC、インタフェースIC 
電子部品チェック
フォトカプラ解析
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